Buscar por Autor Acosta López, Juan Sebastián
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| Vista previa | Fecha de publicación | Título | Autor(es) |
|---|---|---|---|
 | may-2016 | Medición I-V para estudio estadístico de las características eléctricas en dispositivos de tecnología CMOS | Trojman, Lionel (dir); Acosta López, Juan Sebastián |
