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Título : Mejoramiento de Sistema de Medición RFCV para Transistores Ultra Scaled
Autor : Trojman, Lionel (dir)
Benalcázar Ruiz, Diego Rafael
Descriptores / Subjects : Instrumentos de Medición
Transistores
Mediciones
Semiconductores
Fecha de Publicación : dic-2016
Ciudad: Editorial : Quito: USFQ, 2016
Cita Sugerida : Tesis (Ingeniero Electrónico), Universidad San Francisco de Quito, Colegio de Ciencias e Ingenierías; Quito, Ecuador, 2016
Resumen / Abstract: En el presente trabajo se analiza y depura un sistema de mediciones RFCV utilizado para la caracterización de dispositivos semiconductores. El sistema se basa en una interfaz gráfica de usuario escrita en Python 2.7 que controla simultáneamente dos equipos del laboratorio de Micro y Nano Electrónica de la USFQ. Uno es un caracterizador de semiconductores (SCS) modelo Keithley K4200 y el otro un analizador de redes (VNA) modelo Agilent E5071C ENA. Ambos equipos deben funcionar de manera sincronizada para poder obtener valores de la matriz de dispersión directamente desde el VNA. El posterior procesamiento de estos datos en la aplicación permite encontrar las relaciones entre el voltaje DC aplicado en pequeña señal y las capacitancias gate-to-all Cga y gate-to-channel Cgc. En este proyecto se trabaja sobre tres etapas del proceso. Primero, se encuentran y corrigen errores de programación y fallas en el protocolo de sincronización. Segundo, se modifica el proceso de calibración del VNA haciéndolo más confiable y eficaz. Por último, se añade una etapa de des incrustación a la aplicación que hace al proceso más completo pero que parece comprometer los resultados al utilizar el modelo en cuestión.
Descripción : In the present work, an RFCV measurement system used for the characterization of semiconductor devices is analyzed and debugged. The system is based on a graphical user interface written in Python 2.7 that simultaneously controls two systems from the USFQ Micro and Nano Electronics laboratory. One is a Keithley K4200 semiconductor characterization system (SCS) and the other an Agilent E5071C ENA vector network analyzer (VNA). Both devices must operate synchronously to obtain values of the scattering matrix directly from the VNA. The subsequent processing of these data in the application allows to find the relations between the DC voltage applied in small signal and the capacitances gate-to-all Cga and gate-to-channel Cgc. This project works on three stages of the process. First, programming errors and failures in the synchronization protocol are found and corrected. Second, the calibration process of the VNA is modified making it more reliable and efficient. Finally, a de-embedding stage is added to the application which makes the process more complete but which seems to compromise the results when using the model in question.
URI : http://repositorio.usfq.edu.ec/handle/23000/6152
Aparece en las colecciones: Tesis - Ingeniería Eléctrica y Electrónica

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