1. Repositorio Digital USFQ

Buscar por Materia Semiconductores

Ir a: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
O introducir las primeras letras:  
Mostrando resultados 1 a 4 de 4
Vista previaFecha de publicaciónTítuloAutor(es)
124530.pdf.jpgmay-2016Desarrollo de medición RFCV para transistor ultra scaledTrojman, Lionel (dir); Garzón Córdova, Esteban José
103971.pdf.jpg2012Exploración de dispositivos MOSFET usando COMSOL multiphysics.Troijman, Lionel, dir.; Bustamante Guevara, José
124768.pdf.jpgmay-2016Medición I-V para estudio estadístico de las características eléctricas en dispositivos de tecnología CMOSTrojman, Lionel (dir); Acosta López, Juan Sebastián
128921.pdf.jpgdic-2016Mejoramiento de Sistema de Medición RFCV para Transistores Ultra ScaledTrojman, Lionel (dir); Benalcázar Ruiz, Diego Rafael
Mostrando resultados 1 a 4 de 4