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124530.pdf.jpgmay-2016Desarrollo de medición RFCV para transistor ultra scaledTrojman, Lionel (dir); Garzón Córdova, Esteban José
108864.pdf.jpg2013El futuro del almacenamiento de información estudio de la tecnología de memorias resistivas basado en el modelo de contactos de punto cuánticoTrojman, Lionel (dir); Moreno Lanas, Jorge Esteban
124768.pdf.jpgmay-2016Medición I-V para estudio estadístico de las características eléctricas en dispositivos de tecnología CMOSTrojman, Lionel (dir); Acosta López, Juan Sebastián
128921.pdf.jpgdic-2016Mejoramiento de Sistema de Medición RFCV para Transistores Ultra ScaledTrojman, Lionel (dir); Benalcázar Ruiz, Diego Rafael
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