http://repositorio.usfq.edu.ec/handle/23000/12728
Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Prócel, Luis Miguel , dir. | - |
dc.contributor.author | Borja Cajiao, Raúl André | - |
dc.date.accessioned | 2023-12-14T19:58:51Z | - |
dc.date.available | 2023-12-14T19:58:51Z | - |
dc.date.issued | 2022-12-07 | - |
dc.identifier.citation | Tesis (Magíster en Nanoelectrónica), Universidad San Francisco de Quito, Colegio de Posgrados ; Quito, Ecuador, 2022 | es_ES |
dc.identifier.uri | http://repositorio.usfq.edu.ec/handle/23000/12728 | - |
dc.description | This work studies the importance of guaranteeing the testability of a product and how to implement it during the design process of an integrated circuit. During this study, different standards used at an industrial level in chip design such as IEEE 1149.1 were analyzed and applied to guarantee the testability of the devices... | es_ES |
dc.description.abstract | En el presente trabajo se estudia la importancia de garantizar la capacidad de prueba de un producto y como implementarla durante el proceso de diseño de un circuito integrado. Durante este estudio se analizaron y aplicaron distintos estándares utilizados a nivel industrial en el diseño de chips como el IEEE 1149.1 para garantizar la capacidad de prueba en los dispositivos... | es_ES |
dc.format.extent | 77 h. | es_ES |
dc.language.iso | en | es_ES |
dc.publisher | Quito | es_ES |
dc.rights | openAccess | es_ES |
dc.rights | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 Ecuador | * |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/ec/ | * |
dc.subject | Circuitos integrados - Tesis y disertaciones académicas. | es_ES |
dc.subject | Sistemas electrónicos. | es_ES |
dc.subject.other | Tecnología | es_ES |
dc.subject.other | Electrónica | es_ES |
dc.title | SoC Design For Test Automation | es_ES |
dc.type | masterThesis | es_ES |
Aparece en las colecciones: | Tesis - Maestría en Nanoelectrónica |
Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
---|---|---|---|---|
323173.pdf | Texto completo | 3.24 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
Este ítem está sujeto a una licencia Creative Commons Licencia Creative Commons