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dc.contributor.advisorPrócel, Luis Miguel , dir.-
dc.contributor.authorBorja Cajiao, Raúl André-
dc.date.accessioned2023-12-14T19:58:51Z-
dc.date.available2023-12-14T19:58:51Z-
dc.date.issued2022-12-07-
dc.identifier.citationTesis (Magíster en Nanoelectrónica), Universidad San Francisco de Quito, Colegio de Posgrados ; Quito, Ecuador, 2022es_ES
dc.identifier.urihttp://repositorio.usfq.edu.ec/handle/23000/12728-
dc.descriptionThis work studies the importance of guaranteeing the testability of a product and how to implement it during the design process of an integrated circuit. During this study, different standards used at an industrial level in chip design such as IEEE 1149.1 were analyzed and applied to guarantee the testability of the devices...es_ES
dc.description.abstractEn el presente trabajo se estudia la importancia de garantizar la capacidad de prueba de un producto y como implementarla durante el proceso de diseño de un circuito integrado. Durante este estudio se analizaron y aplicaron distintos estándares utilizados a nivel industrial en el diseño de chips como el IEEE 1149.1 para garantizar la capacidad de prueba en los dispositivos...es_ES
dc.format.extent77 h.es_ES
dc.language.isoenes_ES
dc.publisherQuitoes_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.rightsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 Ecuador*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/ec/*
dc.subjectCircuitos integrados - Tesis y disertaciones académicas.es_ES
dc.subjectSistemas electrónicos.es_ES
dc.subject.otherTecnologíaes_ES
dc.subject.otherElectrónicaes_ES
dc.titleSoC Design For Test Automationes_ES
dc.typemasterThesises_ES
Aparece en las colecciones: Tesis - Maestría en Nanoelectrónica

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